IEEE comemora 125 anos e homenageia fellows

A Seção Rio de Janeiro do IEEE (Instituto dos Engenheiros Elétricos e Eletrônicos) promove, dia 2 de abril, no auditório da Coppe/UFRJ, o debate “O futuro da engenharia no Brasil e no mundo”, com a participação de pesquisadores que receberam o grau de Fellow do Instituto. No evento, que faz parte da agenda de comemoração pelos 125 anos do IEEE, serão homenageados 12 fellows do Rio de Janeiro e um de Minas Gerais. O encontro, que será realizado a partir das 9h, na Sala 122, no Bloco G, do Centro de Tecnologia, na Ilha do Fundão, tem entrada franca.

O Cepel será representado pelo pesquisador Nelson Martins, assistente da Diretoria Geral e um dos 12 fellows da seção fluminense do IEEE. Outros dois integrantes do grupo homenageado também atuaram no Cepel, o ex-diretor Geral do Centro, Jerzy Lepecki, e o ex-diretor Márcio Szechtman.

Segundo a organização do evento, os fellows homenageados destacarão, no debate, suas visões pessoais do IEEE e do futuro da engenharia, no mundo em geral, e no Brasil em particular. Além da homenagem aos pesquisadores, o encontro tem por objetivo proporcionar aos estudantes e profissionais uma ampla visão da carreira de engenheiro e da importância do Instituto para a trajetória profissional.

O grau de Fellow é concedido aos membros do IEEE com um currículo extraordinário em algum dos campos de interesse do Instituto. De acordo com o IEEE, esses pesquisadores formam um grupo de elite, no qual o Instituto busca por lideranças que influenciarão nos rumos da pesquisa e do desenvolvimento tecnológico nas áreas de Elétrica e Eletrônica.

Maior instituição técnico-científica da área de Engenharia, o IEEE possui cerca de 400 mil membros em 150 países. Apenas 1,5% deles chegaram ao grau de Fellow. Na Região 9 do IEEE, que abrange toda a América Latina, apenas 29 membros receberam essa distinção. Desses, 19 são do Brasil, dos quais 12 da Seção Rio de Janeiro.

O debate “O futuro da engenharia no Brasil e no mundo” conta com o apoio do Cepel, do Instituto Alberto Luiz Coimbra de Pós-graduação e Pesquisa de Engenharia (Coppe/UFRJ), do Centro de Tecnologia da UFRJ e do Programa de Engenharia Elétrica.